一种金融双界面卡可测试性设计研究
作者:
作者单位:

(北方工业大学 理学院,北京 100144)

作者简介:

安艳伟(1969-),女,河北省人,实验师,主要从事电路测试与可测试性方向研究。[FQ)]


Testability Design for Dual Interface Financial IC Card
Author:
Affiliation:

(College of Science,North China University of Technology,Beijing 100144,China)

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    摘要:

    由于安全性好,存储容量大等方面的优点,金融IC卡代替传统的磁条卡已经成为一种必然趋势;由于电路的复杂性,在金融卡的设计过程中必需注意可测试性设计;文章对一种金融双界面卡进行可测试性设计,主要关注嵌入式存储器、振荡器电路和非接触模拟前端电路的可测试性设计,在进行理论分析的基础上提出测试结构,并对电路进行设计;最终基于V777系统对流片以后的金融双界面卡进行测试,测试结果表明本设计具有很好的功能。

    Abstract:

    Duo to the merits of security and large memory capacity it is an inexorable trend that the financial IC card takes the palace of magnetic stripe card. For the complicated circuits testability design must be considered during the design of financial IC card. In this paper it introduces the testability design for a financial IC card,it presents the testability design of embed memory,OSC and analog front end circuits,after analyzing relative theory it proposes the test structure and design the circuits. Finally,it measures the chip of financial IC card with the equipment of V777,the test results shows the testability design is suitable for this IC card. 

    参考文献
    [1] 赵本阳.商业银行发展金融IC卡行业应用探究.上海金融,2011, 45(9):94-98.
    [2] 曾孝平,任家峪,熊东.基于RFID的非接触式IC卡读写器设计.计算机测量与控制,2010,8(10):2357-2359.
    [3] 陈圣俭,李广进,高华.基于外壳架构与测试访问机制的数字芯核可测试性设计.微电子学与计算机,2012,9(6):42-45.
    [4] 胡明明,王小力.SoC 芯片可测试性设计策略的实现研究.电路与系统学报,16(2):56-61.
    [5] 曲伟.基于IEEE1149标准的电子装备可测试性设计技术研究.计算机测量与控制,2010,8(10):2710-2712.
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引用本文

安艳伟,戴澜,郑晓亮.一种金融双界面卡可测试性设计研究计算机测量与控制[J].,2015,23(7):2327-2328, 2336.

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  • 在线发布日期: 2015-07-31
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